Jaminan kualitas

Pikiran Kualitas Daikyo

Ayo Berjuang! Untuk Klaim “Nol” / Cacat “Nol”


Ini adalah pola pikir yang harus dimiliki semua anggota Daikyo.
Ini mewakili hati dan semangat Daikyo untuk mencapai tujuan akhir kami:
Nol (0) Pelanggan Klaim Nol (0) Cacat Nol.

Daikyo Giken-Kogyo Group mengejar kebijakan

Semua perusahaan dari Grup Daikyo Giken-Kogyo mengejar kebijakan “0 keluhan dan 0 cacat” melalui kegiatan DQM (Daikyo Quality Mind), yang mencakup penetapan dan kepatuhan yang kaku terhadap piagam kualitas berikut untuk terus mewujudkan filosofi manajemen kami.

  1. Kami akan selalu menyediakan produk dengan kualitas dan teknologi yang melebihi harapan pelanggan.
  2. Dasar-dasar peningkatan kualitas adalah operasi sehari-hari masing-masing karyawan, kesadaran, dan prosedur kerja yang tepat.
  3. Karyawan perusahaan harus menyadari bahwa meningkatkan kemampuan mereka sendiri berarti peningkatan kualitas produk, dan harus terus bercita-cita untuk meningkatkan diri mereka sendiri.
  4. Semua undang-undang, peraturan, dan aturan lain yang relevan dari negara terkait harus dipatuhi dengan ketat setiap saat.
  5. Karyawan Daikyo Giken-Kogyo harus bekerja menuju peningkatan kualitas dengan bangga dan antusiasme.

Konten bisnis

Untuk memberikan kualitas produk yang dibutuhkan oleh pelanggan dengan andal, Departemen Jaminan Mutu melakukan berbagai kegiatan termasuk pengukuran berbagai sifat fisik pita, pengukuran dimensi presisi tinggi, pembuatan tabel inspeksi kualitas yang menunjukkan kualitas produk, dan penanganan pertanyaan terkait masalah lingkungan (peraturan RoHS, peraturan REACH, dan sertifikasi non-inklusi lainnya; chemSHERPA; dll.), dan menjalankan kegiatan sehari-harinya dengan tingkat tanggung jawab yang sesuai dengan departemen yang bertanggung jawab untuk mengawasi kualitas. Selain itu, kami percaya bahwa jika ada klaim atau keluhan, menyelidiki akar penyebab yang andal dan segera serta menerapkan tindakan pencegahan permanen adalah kunci untuk memastikan kepercayaan dan kepercayaan pelanggan yang lebih besar.

Daftar alat ukur

Ruang suhu dan kelembaban konstan Rentang pengaturan suhu: -40 hingga 150°C
Rentang pengaturan kelembaban: 20 hingga 98%
Perangkat ini memungkinkan pengoperasian sengatan panas yang diprogram dan pengujian lingkungan lainnya pada suhu yang disetel antara -40 dan 150°C.
Lingkup Mikro Digital VHX (KEYENCE) Sensor gambar CMOS – Jumlah piksel: 3.190.000 piksel
Pembesaran lensa objek: 20x hingga 6000x
perbesaran lensa zoom: 20x hingga 200x ukuran
Ukuran panggung: 150 mm × 150 mm
Ini adalah mikroskop dengan kemampuan pengukuran dimensi tambahan, yang memungkinkan pengukuran arah kedalaman sambil mengubah pemrosesan dan fokus integral gambar. Juga memungkinkan pengukuran dimensi dan bentuk 3 dimensi sederhana.
Sistem Pengukuran Penglihatan Kinerja Tinggi 3D (Mitutoyo) Rentang pengukuran: 600 ×650 ×250 (X, Y, Z) mm
Tampilan minimum: 0,1 μm
Sistem ini memungkinkan pengukuran produk skala besar, memungkinkan pencahayaan pencahayaan cincin diatur dalam kisaran 30° hingga 80°, dan sangat cocok untuk pengukuran permukaan miring dan variasi ketinggian yang sangat kecil.
Penguji tarik (Minebea) Arah tegangan: 90°, 180°
Beban maksimum: 200N
Rentang pengukuran: Gaya rekat, gaya kupas, gaya geser
Perangkat ini memungkinkan pengukuran sesuai JIS Z 0237 dan mampu menangani beban maksimum hingga 200 N.
Penguji gaya penahan Melakukan pengukuran jumlah deviasi dan gaya menahan waktu jatuh menggunakan jig yang dikembangkan sendiri.
Penguji Gakushin Perangkat ini memungkinkan penilaian ketahanan abrasi permukaan permukaan perekat dan permukaan bahan dasar menggunakan jig yang dikembangkan sendiri.
Perangkat pengukur viskositas Perangkat ini digunakan untuk mengukur viskositas lelehan panas, emulsi, dan perekat lain yang dikembangkan oleh perusahaan kami.
Spektroskop inframerah transformasi Fourier (FTIR) FTIR menggunakan interferometer untuk secara bersamaan mendeteksi semua panjang gelombang tanpa dispersi, dan transformasi Fourier pengguna untuk menghitung setiap komponen panjang gelombang untuk deteksi dan analisis.
Pemindaian Mikroskop Elektron (SEM) Perangkat ini memantau objek subjek dengan menyinarinya dengan berkas elektron kemudian mendeteksi gaya gerak listrik internal dari elektron sekunder, elektron yang dipantulkan, elektron transmisi, sinar-X, dll yang dipancarkan dari objek subjek.